JYB金盈宝官方网站

新聞資訊
News information
新聞資訊
協(xié)立商貿易(深圳)有限公司
公司新聞
ICT測試設備一般會(huì )在那些場(chǎng)所見(jiàn)到

公司新聞|2021-10-13|admin

ICT檢測設備,這類(lèi)設備在較大的OEM電子工廠(chǎng)中相當常見(jiàn),而這類(lèi)設備通常是用電腦端的上位機界面來(lái)完成的,如開(kāi)始菜單、停止菜單、檢查測試結果和日志等。

自動(dòng)化檢測生產(chǎn)線(xiàn).jpg

負壓測試,即通過(guò)“吸”治具后,即在負壓下,通過(guò)支撐彈簧將支撐板的側面(帶有板的卡槽)向下吸,然后將測試頂針向上推。頂針上推后,接觸板的測試點(diǎn),停止測試。電路板的測試點(diǎn)和頂針一一對應。


ict夾具打開(kāi)后,紅框中有許多針孔。這個(gè)針孔是為了保證負壓吸下中間承載板后,測試頂針能上來(lái)。當然,跳汰機的背面還有一些接口,比如氣管的接口,通訊線(xiàn)與上位機的接口。


ict測試的項目很多,不同的板有不同的測試內容。相同的點(diǎn)是以下三個(gè)測試項目,將涵蓋在所有板測試中,但ICT將包括以下三個(gè)測試項目。


1:開(kāi)路測試是測量被測電路板上有“預期短路”的元器件,是否會(huì )因零件錯誤或缺件而形成開(kāi)路。


2.短路測試是測試被測電路板上的意外短路現象。


3.缺陷分析3:制造缺陷分析,測量電阻、電容和電感等無(wú)源元件。

相關(guān)推薦查看更多+
TEL:0755-8292-5950
手機(+86)158‐1860‐9324
E-mail:qian@testsystem.co.jp
E-mail:kyoritsu_hy@126.com
地址:深圳市福田區新聞路深茂商業(yè)中心10C