業(yè)界ニュース|2023-11-09|admin
[敏感詞]由ICT檢測設備廠(chǎng)家為大家分析ICT測試盲點(diǎn)的原因。?
1.當電阻與跳線(xiàn)并聯(lián)時(shí)，無(wú)法測量電阻
2.無(wú)法測量與跳線(xiàn)并聯(lián)的電感（或變壓器，繼電器）。
3.電感的錯誤部分是跳線(xiàn)或短路，無(wú)法測試。
4.小型電容器與小型電阻器并聯(lián)連接，無(wú)法測量小型電容器。
5.電感與電阻器或電容器及其他組件并聯(lián)連接。電阻或其他組件無(wú)法測量。
6.二極管以相同方向并聯(lián)連接，并且檢測不到缺失的部件之一或空焊。
7.不能測量與小電阻并聯(lián)組件并聯(lián)的組件。
8.電容器的電容太小，測試通常不準確。
9.IC，晶體振蕩器，可調電阻器（VR），熱敏電阻，浪涌吸收器和其他組件的內部性能無(wú)法測量或無(wú)法準確測試。
10.二極管和晶體管與大電容器并聯(lián)連接，無(wú)法測量二極管和晶體管。
11.組件的高低點(diǎn)在同一個(gè)短路組中，并且這些組件不可測試。
12.在IC空焊測試過(guò)程中，如果被測IC的引腳和電容器并聯(lián)連接，則該引腳如果斷開(kāi)則不能進(jìn)行測試。
13.小電容器與大電容器（C1//C2）并聯(lián)連接，無(wú)法測量小電容器。一般來(lái)說(shuō)，C2的電容是C1的10倍以上。C1是不可預測的。
