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業(yè)界ニュース
ICT檢測設備器開(kāi)發(fā)理論

業(yè)界ニュース|2023-11-16|admin


  寫(xiě)這篇論文的目的不是別的,而是資源共享。希望國內的有志之士也能研制出世界一流的ICT檢測設備。讓我們看看他們ICT檢測設備的技術(shù)組件在哪里。我們可以開(kāi)發(fā)每臺成本約500萬(wàn)美元的信通技術(shù)ICT檢測設備。


  ICT檢測設備,即在電路測試、電路板內部電路測試中,這類(lèi)設備是為了快速檢查電路板的缺陷。用于大規模生產(chǎn)的設備。


  我們使用的ICT檢測設備的功能無(wú)非就是這些:1。接觸測試,即開(kāi)路測試。


  2.短路試驗,即短路試驗。


  3.OX/JX測試。即連接器測試(也可以測量BGA和IC是否無(wú)焊料。


  4.組件測試,即組件測試。元器件測試分為電阻測試、電容測試和電感測試。


  5.上電測試,即測試IC部分。為了燃燒。


  這五種功能的設備每臺價(jià)值500萬(wàn)美元,前四種功能的測試儀器每臺也能賣(mài)到100萬(wàn)(據我所知有幾臺測試儀器)??纯此麄兊臏y試原理。


  接觸試驗


  開(kāi)路測試,給指定的測試點(diǎn)一定的電壓,在另一個(gè)指定點(diǎn)測量電壓。如果電壓小于給定值,說(shuō)明這一點(diǎn)有問(wèn)題。這種電路不難吧?網(wǎng)上有很多經(jīng)典的硬件電路。


  短期測試


  短路測試是測試兩點(diǎn)之間的電阻。該理論與電阻測試相同,[敏感詞]將詳細描述。


  OX/JX測試


  上部傳感器芯片和下部針尖發(fā)出交流信號。傳感器芯片感應到的信號在一定范圍內,超出范圍則判斷有問(wèn)題。


  部件試驗


  元件測試更簡(jiǎn)單,電感可以按零電阻計算(所有測試儀器都這樣做)。在元件的一端施加電流,在另一端測試電壓(簡(jiǎn)單,如果你想要硬件電路圖,我這里有,[敏感詞]到0.03%,13642869852 email  : lof  _ lripa  @ 163 . com)。


  另外,并聯(lián)電阻的測試也很巧妙。它利用運算放大器的虛連接和等電壓特性。測試方法如下:


  電阻R2兩端的電壓相等,電流為0。因此,被測電阻R1的電流為I作為給定電流,這樣就可以測出電壓V,R1值為R=V/I


  用運算放大器測試。從“A”點(diǎn)來(lái)看“虛擬土地”的概念是:* Ix=Iref  # f  h  . d  . y/v  . e  . j


  rx=vs/v0 * rref  * f  ' n-o7 l  r5 v0 n1 e9 x;m


  Vs和Rref分別是激勵信號源和儀表計算電阻。測量V0,然后可以找到Rx。8 e  A0 G6 y9 A(N;M* g


  如果待測Rx是電容或電感,那么Vs交流信號源,Rx是阻抗形式,也可以得到C或L。1 _,\ Q  F- q' c


 ??!]' @4 L' Q: D0 N!I1 W  |


  通電測試,即通電測試


  上電測試是測量IC的功能,比如邏輯器件,只測量真值表。測試集成電路功能是否有問(wèn)題。還有所謂的邊界掃描測試,也就是邊界掃描。給IC的管腳一個(gè)定時(shí),檢測其他管腳上的信號是一種測試,這是測試IC的一個(gè)連接問(wèn)題。據說(shuō)這是一種先進(jìn)的測試方法。


  測試原理已經(jīng)完成,這些原理是基本數字模擬信號的應用。如果你想知道具體的參數,請聯(lián)系我。另外,我可以簡(jiǎn)單講一下我開(kāi)發(fā)的測試設備的硬件結構:


  主要有兩種硬件結構:1。功能板。2.尋址板(尋址意味著(zhù)找到指定的針尖)可以通過(guò)以下方式使用:


  功能板用于連接計算機,產(chǎn)生和測量電流和電壓信號,控制尋址板,可由現場(chǎng)可編程門(mén)陣列控制。通過(guò)將尋址板所連接的引腳位置與產(chǎn)生的信號相連接,可以控制待測試板的每個(gè)組件。尋址板也可以使用FPGA找到指定的管腳點(diǎn)。如果有太多128或256針點(diǎn),將使用繼電器。


  以上是對一個(gè)ICT檢測設備的原理和結構的一些描述,供有志之士參考。如果有錯請指正。

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